透過電子顕微鏡(2009年度新設)

JEOL JEM-2100

概要

本顕微鏡は、高輝度、高安定性に優れたLaB6電子銃を採用しており、数ナノメートルの微小領域の高感度分析にも威力を発揮します。また、カーボンナノチューブなどの高分子材料などの高加速ビームによる試料損傷を受けやすい材料観察時には最適な加速電圧に素早く変更することができます。幅広い(超高分解能、高分解能、試料高傾斜、クライオ、ハイコントラスト)を用意しています。ローテーションフリー、ディストーションフリー光学系、試料へのビーム照射角を変えることができるアルファセレクタ機能などの電子光学系を搭載しています。また、ピエゾ素子を組み込んだゴニオメータステージによって原子レベルにおけるスムーズな視野選択を実現しています

利用条件

初めて使用する際にはお問い合わせ下さい。